Yazar "Yücel, Melike Behiye" seçeneğine göre listele

Listeleniyor 1 - 1 / 1
  • Küçük Resim Yok
    Öğe
    Film örnekleri üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan yüzey katmanlarının elipsometrik yöntemle incelenmesi
    (Cumhuriyet Üniversitesi, 1992) Yücel, Melike Behiye; Kavcar, Nevzat
    ÖZET Bu çalışmada, vakumda ısısal buharlaştırma tekniği ile kuvars taşıyıcılar üzerine In, cam taşıyıcılar üzerine Ag-Cu ve yine cam üzerine CuInSe2 filmler kaplandı. Cu filmler yaklaşık 2000 Â, CuInSe2 filmler 0,35-1 mikron kalınlığındadır. Ag ve in filmlerinin kalınlıkları ise sırasıyla 15-800 Â, 36-2000 Â aralığında değerlere sahiptir. Bu örnekler vakumdan çıkarıldıktan hemen sonra ve olağan laboratuvar ortamında tutulurken belirli periyotlarla elipsometrik ölçümler yapıldı. Tam elipsometri eşitlikleri ve kompütür programı uygulanarak alt katmanın ve filmler üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan doğal oksit ince filmlerinin optik özellikleri belirlendi. Ag filmler üzerinde oluşan Ag2S, in ve CuInS^ filmler üzerinde oluşan In2Og filmlerinin büyüme hızları için ampirik bağıntılar türetildi.