Film örnekleri üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan yüzey katmanlarının elipsometrik yöntemle incelenmesi

Basit Öğe Kaydı
dc.contributor.advisorKavcar, Nevzat
dc.contributor.authorYücel, Melike Behiye
dc.date.accessioned2024-10-19T19:22:44Z
dc.date.available2024-10-19T19:22:44Z
dc.date.issued1992
dc.departmentEnstitüler, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.descriptionBu tezin, veri tabanı üzerinden yayınlanma izni bulunmamaktadır. Yayınlanma izni olmayan tezlerin basılı kopyalarına Üniversite kütüphaneniz aracılığıyla (TÜBESS üzerinden) erişebilirsiniz.en_US
dc.descriptionFen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Ana Bilim Dalıen_US
dc.description.abstractÖZET Bu çalışmada, vakumda ısısal buharlaştırma tekniği ile kuvars taşıyıcılar üzerine In, cam taşıyıcılar üzerine Ag-Cu ve yine cam üzerine CuInSe2 filmler kaplandı. Cu filmler yaklaşık 2000 Â, CuInSe2 filmler 0,35-1 mikron kalınlığındadır. Ag ve in filmlerinin kalınlıkları ise sırasıyla 15-800 Â, 36-2000 Â aralığında değerlere sahiptir. Bu örnekler vakumdan çıkarıldıktan hemen sonra ve olağan laboratuvar ortamında tutulurken belirli periyotlarla elipsometrik ölçümler yapıldı. Tam elipsometri eşitlikleri ve kompütür programı uygulanarak alt katmanın ve filmler üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan doğal oksit ince filmlerinin optik özellikleri belirlendi. Ag filmler üzerinde oluşan Ag2S, in ve CuInS^ filmler üzerinde oluşan In2Og filmlerinin büyüme hızları için ampirik bağıntılar türetildi.en_US
dc.description.abstractSUMMARY In this study, In films onto quartz substrates, Ag-Cu films onto glass substrates and CuInSe2 films also onto glass substrates were covered by the method of thermal evapo ration in vacuum. The thickness of Cu films are approximately 2000 Â and the thickness of QjInSe2 films are 035-1 micron. The tfiickness of Ag and In films are between 15-800 Â and 36-2000 Â respectively. Soon after the samples are taken out from the va cuum and while they are waited in the environment of ordinary laboratory, the ellipso- metric measurements were made periodically. By applying the exact equations of ellipso- metry and computer program, the optical properties of underlying layer and the natural oxide thin films grown up naturally on the films were determined. The empirical relati onships were derived for the growth-rates of Ag2S grown up on Ag films, and also I112O3 grown up on In and CuInSe2 films.en_US
dc.identifier.endpage77en_US
dc.identifier.startpage1en_US
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12418/16323
dc.identifier.yoktezid24823en_US
dc.language.isotren_US
dc.publisherCumhuriyet Üniversitesien_US
dc.relation.publicationcategoryTezen_US
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessen_US
dc.snmzYK_20241019en_US
dc.subjectFizik ve Fizik Mühendisliğien_US
dc.subjectPhysics and Physics Engineeringen_US
dc.titleFilm örnekleri üzerinde zamanla kendiliğinden oluşan yüzey katmanlarının elipsometrik yöntemle incelenmesien_US
dc.typeMaster Thesisen_US

Dosyalar

Koleksiyon

Fen Bilimleri Enstitüsü Tez Koleksiyonu